LD溫度特性測量系統WLC-A4
LD溫度特性測量系統WLC-A4
日本wavecyber LD溫度特性測量系統WLC-A4
概述
- *的導光光學系統的實現消除了在常規低溫環境中對復雜的定心瞄準機構的需求，并發射/接收置于-40°C至90°C多個溫度點的LD和PD元件的特性。這是一個可以高速測量的系統。此外，大功率珀耳帖元件實現了高精度，高速的冷卻環境，緊湊的測量結構使系統各種指標的測量穩定性和測量重現性。
- ..
- 該設備在各個溫度點為-40℃?90℃，LD模塊的L＆ I （例如TOCANfai5.6），V＆I，I m＆L，PD元件的I m，I暗度和光譜特性（波長，SMSR等）可以*自動測量。
- 測量兼容元件
形狀： 5.6mmφCAN型（其他形狀規格） 波長： 0.9-1.7微米 - 測量項目
LD： L（波），V f，I r PD： 我中號，我暗 特性曲線 L＆I，V＆I，Im＆L曲線 頻譜分析 中心波長，峰值波長，光譜寬度，SMSR等
| 物品 | 規格 | |
|---|---|---|
| 冷卻循環部分 | 大功率珀耳帖法 | -40°C至90°C可選設置 |
| 溫控電源 | 精度0.1℃470W | |
| 冷卻液循環裝置 | -20℃ | |
| 溫度控制 | 范圍：-40°C至90°C | |
| 顯示精度：±0.01°C | ||
| 控制精度：±0.1°C | ||
| 下降速度：室溫至-40°C約8分鐘 | ||
| 上升速度：-40°C至90°C約10分鐘 | ||
| 恒溫箱內的露點測量 （監控恒溫箱內的環境溫度和濕度） | 溫度測量精度：±0.5°C | |
| 濕度測量精度：±3.5（％RH） | ||
| 冷凝溫度估算精度：±1°C | ||
| 光學零件及恒溫箱 | 16×4 LD測量夾具 | -40°C至90°C可選設置 |
| 恒溫箱 | 尺寸：400W x 180D x 180H（mm） （不包括突起） | |
| LD發光驅動電源 | 電源規格 | 100VAC 2A |
| -5V PD偏置電源 | PC控制 | |
| LD發光驅動電源 | 電流設定范圍：0至150mA | |
| 設定解析度0.2mA | ||
| 手動/自動切換方式 | ||
| 電控箱 | 電源規格 | 100VAC 2A |
| X，Z精密平臺驅動電源 | 24V 5A | |
| 頻譜分析 | 使用市售的光譜分析儀 | |
| 發光/受光特性測量 | LD元件LIV自動測量軟件 | 電壓測量精度：0.1 mV |
| 漏電流測量精度：0.5nA | ||
| 光功率測量精度：1μW | ||
| 監控電流測量精度：0.1μA | ||
| 測量時間 | 在64個元件和1個溫度點的情況下，測量時間約為5分鐘 | |
| 測量項目 | LD：L（Po），V F，I R PD：I M，我暗 L Ando I，V Ando I，I M Ando L曲線 | |
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