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熒光X射線測量儀XDL ®系列
更新日期：2024-05-14
訪問量：937
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
熒光X射線測量儀XDL ®系列FISCHERSCOPE ® X 射線 XDL ®配備正比計(jì)數(shù)器 （PC） 的熒光 X 射線膜厚測量儀。它是一種易于使用的桌面類型，并具有各種 XY 平臺的陣容。
熒光X射線測量儀XDL ®系列
熒光X射線測量儀XDL ®系列
日本進(jìn)口fischer熒光X射線測量儀XDL ®系列
特征
- 外殼有一個(gè)狹窄的開口（C 槽），可以測量大的板狀樣品。
- 帶有可編程 XY 平臺的型號可實(shí)現(xiàn)自動連續(xù)測量 (XDL 240)
主要規(guī)格
| 模型 | XDL 210、XDL 230、XDL 240 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鈦 (22) -U (92) |
| X射線探測器 | 比例計(jì)數(shù)器 (PC) |
| X射線管 | 標(biāo)準(zhǔn)（W 目標(biāo)） |
| 初級過濾器 | 1種固定 |
| 準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸 | 1型固定/Φ0.3mm |
| 車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達(dá) 120W |
| XY平臺 | XDL210：固定式 XDL230：手動型 XDL240：電動型 |
主要應(yīng)用
- 電鍍件的測量
- 電子元件/半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性多層膜測量
- 印刷電路板行業(yè)中的Au、Pd、Ni薄膜測量
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